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                            正电子湮没寿命谱仪

                          正电子湮没寿命谱仪

                           

                          1. 简介

                          正电子寿命应用于材料科学领域中半导体材料类缺陷的测试。这是一套测量设备和电源一体化的正电子寿命测试系统。

                           

                          2.技术特征

                          在寿命测试中,使用3GSPS来测算寿命时间,这是由两种BaF2 的闪烁体产生的高速脉冲信号所导入的。在多普勒宽谱(CDB)中,二维的柱图是由两个锗半导体探测器的波高分布特征值所计算出的。此外,这套测试设备也可以用AMOC模式来测试相关材料的寿命时间及电子动量密度分布

                           

                          3.技术原理

                          时间分析光谱计、DSP多通道分析模块、前置放大器电源模块、高压电源模块、供电支架、BaF2闪烁体探测器、Ge半导体探测器、计算机PC、交换中心(每个模块PC和局域网电缆连接)

                           

                          4.应用案例

                          四川大学

                          中科院高能物理研究所

                          日本各大高校研究所

                           

                          5.规格参数

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